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期刊封面
双月刊  1972
期刊信息
主管单位: 信息产业部
主编: 桑宇清
ISSN: 1008-0147
CN: 32-1479/TN
地址: 江苏省无锡市梁溪路14号(无锡105信箱)
邮政编码: 214061
电话: 0510-85807123-2228
Email: qbzls@mail.huajing.com.cn
网址:

微电子技术

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Microelectronic Technology

本刊是国家科技部、国家新闻出版局批准的国家正式出版物,国内外公开发行。它是由信息产业部主管,中国华晶电子集团公司主办的科学技术刊物。本刊以从事半导体和做电子研究与生产的在职职员、科研学者、大中专院校师生以及电子行业的各级管理人员和计算机、通信、电子系统应用单位的技术人员为主要对象,是一种集学术性、技术性、应用性、信息性于一体的科技刊物。

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1. 涂胶设备背面冲洗功能的开发与研制原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   2002年 002期    作者:廖世荣    作者单位:华越微电子有限公司
该文根据涂胶设备在加工制品过程中所遇到的制品背面沾污问题,提出改进措施,并根据设备的具体情况,增加了涂胶设备的背面冲洗功能.使制品在涂胶过程中,及时地对制品背面进行冲洗,从而保证了制品背面的洁净度,对
关 键 词:涂胶机 光刻 烘炉 背面冲洗 分辨率 刻蚀
2. 国外SIGE器件及其应用 (被引次数:8) 原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   2002年 002期    作者:盛柏桢    作者单位:南京电子器件研究所
该文主要叙述SIGE器件的材料、制作工艺及其器件应用.
关 键 词:锗-硅 半导体工艺 半导体器件
3. 全球IC产业正面临21世纪"后PC"时代的挑战原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   2002年 002期    作者:孙以材    作者单位:河北工业大学
该文介绍了"后PC"时代的特点-21世纪PC机的市场萎缩导致IC需求减少.IC企业间的竞争发生变化,这时更强调员工的智力和所掌握的技术以及推出新系统IC产品的速度,而不是生产规模.
关 键 词:IC产业 "后PC"时代 市场萎缩
4. 几种诊断测试系统的简单方法原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   2002年 002期    作者:汪芳    作者单位:华润微集成电路(无锡)有限公司
测试系统的状态是否正常关系到测试器件的准确性和测试精度.有经验的硬件工程师和软件工程师经常会发现有时测试系统虽然自诊断通过,但测试器件时却参数测试不准确、功能测试失效等.这往往叫人无从下手.该文介绍几
关 键 词:测试系统 精度 诊断
5. 高速小型异物监控器原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   2002年 002期    作者:康顺   
关 键 词:高速小型 监控器 异物检查 抽样检查 半导体工艺
6. 单片微控制器的功能集成方向(二) (被引次数:1) 原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   2002年 002期    作者:居水荣    作者单位:华润微集成电路(无锡)有限公司
3 单片微控制器在显示驱动方面的发展自1951年彩色显像管(CRT阴极射线管)问世以来,显示器件的发展已有50年.随着半导体、集成电路的发展,人们急需显示器件的小型化、平面化.从60年代开始,先后发明
关 键 词:七段显示器 平板显示器件 功能集成 单片微控制器 液晶显示器件
7. 一种新型智能COD仪的研制 (被引次数:2) 原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   2002年 002期    作者:冯斌    作者单位:江南大学
近年来,GSM移动通信技术日趋成熟,它提供了强大可靠的短信息(SMS)服务和数据传输服务.基于GSM数据传输平台的各种应用也不断被开发.该文介绍GSM在污水COD监测方面的应用,并着重介绍COD监测终
关 键 词:GSM COD 监测终端 库仑滴定
8. G.723.1双速率语音编解码算法在TMS320VC5402上的实现 (被引次数:6) 原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   2002年 002期    作者:刘声权    作者单位:华中科技大学
该文先简单介绍了G.723.1双速率编解码算法标准,然后根据TI公司的DSP芯片TMS320VC5402的性能特征,在深入分析G.723.1标准的C源代码后,对算法进行了一系列优化.文中详述了这些优化
关 键 词:G.723.1 TMS320VC5402 语音编解码 实时实现
9. 军用电子设备研制中元器件的质量与可靠性管理 (被引次数:13) 原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   2002年 002期    作者:赵洪杰    作者单位:信息产业部电子第五十三研究所
阐述了军用电子设备研制单位应对所使用的元器件采取有效的质量与可靠性管理过程和管理措施.
关 键 词:元器件 二次筛选 可靠性管理 失效分析
10. CMOS集成电路静电泄漏实验分析 (被引次数:6) 原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   2002年 002期    作者:于宗光    作者单位:无锡微电子科研中心
CMOS集成电路的静电损伤一直是影响其可靠性的一个重要因素.当器件尺寸缩小到1μM以下时,在减小芯片I/OPAD尺寸、提高工作频率的同时,保证较高的抗静电能力就显得尤为重要.该文首先对两种1μMMOS
关 键 词:CMOS 集成电路 静电泄漏 实验 分析 提高