期刊封面
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| 双月刊 1972 |
期刊信息
| 主管单位： | 信息产业部 |
| 主编： | 桑宇清 |
| ISSN： | 1008-0147 |
| CN： | 32-1479/TN |
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| 邮政编码： | 214061 |
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微电子技术
Microelectronic Technology
本刊是国家科技部、国家新闻出版局批准的国家正式出版物，国内外公开发行。它是由信息产业部主管，中国华晶电子集团公司主办的科学技术刊物。本刊以从事半导体和做电子研究与生产的在职职员、科研学者、大中专院校师生以及电子行业的各级管理人员和计算机、通信、电子系统应用单位的技术人员为主要对象，是一种集学术性、技术性、应用性、信息性于一体的科技刊物。
| 刊内检索 |
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| 11. 可靠性试验与工艺优化 （被引次数：1） |
| [中文期刊] 刊名:《微电子技术》 1999年 001期 作者:陈建新 作者单位:无锡华润微电子有限公司 | |
| 该文简要的说明了CS50在开发过程中,其背面金属化材料的更改,工艺优化都与可靠性有着密切联系.通过相关的可靠性试验为其提供科学的依据. | |
| 关 键 词：导通电阻 热阻 背面金属化 热疲劳试验 |