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期刊封面
双月刊  1972
期刊信息
主管单位: 信息产业部
主编: 桑宇清
ISSN: 1008-0147
CN: 32-1479/TN
地址: 江苏省无锡市梁溪路14号(无锡105信箱)
邮政编码: 214061
电话: 0510-85807123-2228
Email: qbzls@mail.huajing.com.cn
网址:

微电子技术

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Microelectronic Technology

本刊是国家科技部、国家新闻出版局批准的国家正式出版物,国内外公开发行。它是由信息产业部主管,中国华晶电子集团公司主办的科学技术刊物。本刊以从事半导体和做电子研究与生产的在职职员、科研学者、大中专院校师生以及电子行业的各级管理人员和计算机、通信、电子系统应用单位的技术人员为主要对象,是一种集学术性、技术性、应用性、信息性于一体的科技刊物。

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11. 条宽测量及其测量因素分析原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   1994年 001期    作者:潘云芳    作者单位:中国华晶电子集团公司中央研究所
关 键 词:重复性测量 测量仪 集成电路生产 空间结构 光学图形 强度分布 精确度误差 条宽 绝对误差 测量因素
12. 用高频电容法测量P/P~+外延层电阻率原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   1994年 001期    作者:聂海谱    作者单位:无锡华润微电子有限公司
高频电容法是测量P/P~+外延层电阻率的一种简单易行的新方法.这种方法,直接利用同质均匀掺杂外延层电阻率ρ与空间电荷电容Cs(势垒电容)平万的倒数关系,通过测量势垒电容Cs,直接得到P/P~+外延层的
关 键 词:相对误差 外延层 外延片 高频电容 势垒电容 层电阻 电阻率 测电阻
13. VLSI多层互连可靠性 第一部分:电迁移失效(一) (被引次数:3) 原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   1994年 001期    作者:武国英    作者单位:北京大学微电子学研究院
关 键 词:多层互连 失效元 电流密度 可靠性 表面扩散 电迁移失效 迁移特性 电迁移寿命 失效寿命
14. 高集成、高速工作的基础单元集成电路已商品化原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   1994年 001期    作者:李黎   
关 键 词:单元库 高集成 单元集 产品商品化 微细加工技术 电路