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期刊封面
双月刊  1972
期刊信息
主管单位: 信息产业部
主编: 桑宇清
ISSN: 1008-0147
CN: 32-1479/TN
地址: 江苏省无锡市梁溪路14号(无锡105信箱)
邮政编码: 214061
电话: 0510-85807123-2228
Email: qbzls@mail.huajing.com.cn
网址:

微电子技术

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Microelectronic Technology

本刊是国家科技部、国家新闻出版局批准的国家正式出版物,国内外公开发行。它是由信息产业部主管,中国华晶电子集团公司主办的科学技术刊物。本刊以从事半导体和做电子研究与生产的在职职员、科研学者、大中专院校师生以及电子行业的各级管理人员和计算机、通信、电子系统应用单位的技术人员为主要对象,是一种集学术性、技术性、应用性、信息性于一体的科技刊物。

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1. EEPROM可靠性初探 (被引次数:1) 原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   1998年 0Z1期    作者:刘允    作者单位:中国华晶电子集团公司中央研究所
该文从EEPROM的简单的理论入手,引入了EEPROM器件的可靠性的概念.从"点":隧道氧化层的评估(QBD实验)-"线"(擦/写实验)-"面"(加速保持特性实验)全面综合评估了EEPROM的可靠性.
关 键 词:EEPROM 擦除 写入 Q_(BD) 电子陷阱 空穴陷阱 阈值 早期失效 加速因子
2. 扫描测试和扫描链的构造 (被引次数:10) 原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   1998年 0Z1期    作者:肖忠辉    作者单位:北京科技大学
该文首先论述了扫描设计与测试向量自动生成(ATPG)这种测试方法的关键技术,并由此为依据,提出部分扫描设计中,扫描链构造的分层次的三个选取原则.
关 键 词:部分扫描 故障覆盖率 测试生成
3. 高密度高性能电子封装技术的现状与发展 (被引次数:5) 原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   1998年 0Z1期    作者:王毅    作者单位:西安微电子技术研究所
该文从系统集成的观点出发,首先介绍电子封装技术的发展历程,各个"封装"级别的主要特征,然后着重描述微电子封装的代表性技术,包括SMT、COB、MCM、WSI.最后概述高密度高性能电子封装技术的发展趋势
关 键 词:系统集成 微封装 电子封装
4. 8万门门阵母片系列电路JSC710XX测试技术研究原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   1998年 0Z1期    作者:陆斌    作者单位:中国华晶电子集团公司中央研究所
利用DIC8032大规模集成电路测试系统,实现了8万门门阵系列电路JSC710XX的功能,参数的测试,并验证了8万门门阵列母片.
关 键 词:8万门门阵列 GOSCA 测试技术
5. 1998年增长的X86微处理器市场原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   1998年 0Z1期    作者:荣莹   
关 键 词:处理器 个人计算机网络 1998年 台式计算机
6. 8万门母片系列电路测试软件开发及COMPASS门阵列库单元测试验证技术原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   1998年 0Z1期    作者:周亚丽    作者单位:中国华晶电子集团公司中央研究所
JSC710XX是我国第一块利用COMPASS8万门门阵母片正向设计的超大规模集成电路,我们在DIC8032测试系统上开发出测试软件,对该电路的功能和参数进行了较完整的测试,也验证了COMPASS门阵
关 键 词:8万门门阵列 验证 测试技术
7. IC工艺流程检测原文获取 
[中文期刊]   刊名:《微电子技术》   1998年 0Z1期    作者:杜支华    作者单位:中国华晶电子集团公司中央研究所
随着IC电路技术的快速发展,其设计制造技术也越来越复杂.对如何检测、监控工艺制造过程(包括设计)中的物理、工艺、器件等特性、参数,是该文所介绍的主要内容.
关 键 词:薄层电阻测试结构 范得堡测试结构 金属-半导体接触窗口接触电阻测试结构 晶体管测试结构 单极(PN极)特性测试结构 电容测试结构